Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)

Zákazku vyhral jediný súťažiaci — bez reálnej súťaže cenu určuje jediná ponuka. Bežné pri špecializovaných dodávkach či urgencii; pri súťažných postupoch je to však signál slabej konkurencie. Nejde o dôkaz pochybenia.

offers count

1

Druh postupu

Verejná súťaž